1樓：堅信
利用jade等軟體分析,尋找與該圖譜對應的卡片，即是該物質
這個x射線衍射圖怎麼分析啊
2樓：匿名使用者
xrd一般是用來進行物相檢測的，除此外也可以測試織構，殘餘應力等。而物相檢測主要包括峰形，峰位和峰強。其中峰位是最重要的，直接可以確定你材料中所包含的是什麼物相。
你需要查詢一下xrd的pdf卡片或相關文獻。從圖中能看出的是木棉和麵是兩個很類似的結構組成。但是從更細節的來看，棉比木棉更復雜。
（在15度附近，木棉只有一個峰，而棉在此處劈裂為了兩個峰。）
x射線圖譜怎麼分析
3樓：桑秋雨
晶體的x射線衍射影象實質上是晶體微觀結構的一種精細複雜的變換，每種晶體的結構與其x射線衍射圖之間都有著一一對應的關係，其特徵x射線衍射圖譜不會因為它種物質混聚在一起而產生變化，這就是x射線衍射物相分析方法的依據。製備各種標準單相物質的衍射花樣並使之規範化，將待分析物質的衍射花樣與之對照，從而確定物質的組成相，就成為物相定性分析的基本方法。鑑定出各個相後，根據各相花樣的強度正比於改組分存在的量（需要做吸收校正者除外），就可對各種組分進行定量分析。
目前常用衍射儀法得到衍射圖譜，用「粉末衍射標準聯合會（jcpds）」負責編輯出版的「粉末衍射卡片（pdf卡片）」進行物相分析。
目前，物相分析存在的問題主要有：⑴ 待測物圖樣中的最強線條可能並非某單一相的最強線，而是兩個或兩個以上相的某些次強或三強線疊加的結果。這時若以該線作為某相的最強線將找不到任何對應的卡片。
⑵ 在眾多卡片中找出滿足條件的卡片，十分複雜而繁鎖。雖然可以利用計算機輔助檢索，但仍難以令人滿意。⑶ 定量分析過程中，配製試樣、繪製定標曲線或者k值測定及計算，都是複雜而艱鉅的工作。
為此，有人提出了可能的解決辦法，認為 從相反的角度出發，根據標準資料（pdf卡片）利用計算機對定性分析的初步結果進行多相擬合顯示，繪出衍射角與衍射強度的模擬衍射曲線。通過調整每一物相所佔的比例，與衍射儀掃描所得的衍射圖譜相比較，就可以更準確地得到定性和定量分析的結果，從而免去了一些定性分析和整個定量分析的實驗和計算過程。
2、點陣常數的精確測定
點陣常數是晶體物質的基本結構引數，測定點陣常數在研究固態相變、確定固溶體型別、測定固溶體溶解度曲線、測定熱膨脹係數等方面都得到了應用。點陣常數的測定是通過x射線衍射線的位置（θ ）的測定而獲得的，通過測定衍射花樣中每一條衍射線的位置均可得出一個點陣常數值。
點陣常數測定中的精確度涉及兩個獨立的問題，即波長的精度和布拉格角的測量精度。波長的問題主要是x射線譜學家的責任，衍射工作者的任務是要在波長分佈與衍射線分佈之間建立一一對應的關係。知道每根反射線的密勒指數後就可以根據不同的晶系用相應的公式計算點陣常數。
晶面間距測量的精度隨θ 角的增加而增加， θ越大得到的點陣常數值越精確，因而點陣常數測定時應選用高角度衍射線。誤差一般採用**外推法和最小二乘法來消除，點陣常數測定的精確度極限處在1×10-5附近。
3、應力的測定
x射線測定應力以衍射花樣特徵的變化作為應變的量度。巨集觀應力均勻分佈在物體中較大範圍內，產生的均勻應變表現為該範圍內方向相同的各晶粒中同名晶面間距變化相同，導致衍射線向某方向位移，這就是x射線測量巨集觀應力的基礎；微觀應力在各晶粒間甚至一個晶粒內各部分間彼此不同，產生的不均勻應變表現為某些區域晶面間距增加、某些區域晶面間距減少，結果使衍射線向不同方向位移，使其衍射線漫散寬化，這是x射線測量微觀應力的基礎。超微觀應力在應變區內使原子偏離平衡位置，導致衍射線強度減弱，故可以通過x射線強度的變化測定超微觀應力。
測定應力一般用衍射儀法。
x射線測定應力具有非破壞性，可測小範圍區域性應力，可測表層應力，可區別應力型別、測量時無需使材料處於無應力狀態等優點，但其測量精確度受組織結構的影響較大，x射線也難以測定動態瞬時應力。
4、晶粒尺寸和點陣畸變的測定
若多晶材料的晶粒無畸變、足夠大，理論上其粉末衍射花樣的譜線應特別鋒利，但在實際實驗中，這種譜線無法看到。這是因為儀器因素和物理因素等的綜合影響，使純衍射譜線增寬了。純譜線的形狀和寬度由試樣的平均晶粒尺寸、尺寸分佈以及晶體點陣中的主要缺陷決定，故對線形作適當分析，原則上可以得到上述影響因素的性質和尺度等方面的資訊。
在晶粒尺寸和點陣畸變測定過程中，需要做的工作有兩個：⑴ 從實驗線形中得出純衍射線形，最普遍的方法是傅立葉變換法和重複連續卷積法。⑵ 從衍射花樣適當的譜線中得出晶粒尺寸和缺陷的資訊。
這個步驟主要是找出各種使譜線變寬的因素，並且分離這些因素對寬度的影響，從而計算出所需要的結果。主要方法有傅立葉法、線形方差法和積分寬度法。
5、單晶取向和多晶織構測定
單晶取向的測定就是找出晶體樣品中晶體學取向與樣品外座標系的位向關係。雖然可以用光學方法等物理方法確定單晶取向，但x衍射法不僅可以精確地單晶定向，同時還能得到晶體內部微觀結構的資訊。一般用勞埃法單晶定向，其根據是底片上勞埃斑點轉換的極射赤面投影與樣品外座標軸的極射赤面投影之間的位置關係。
透射勞埃法只適用於厚度小且吸收係數小的樣品；背射勞埃法就無需特別製備樣品，樣品厚度大小等也不受限制，因而多用此方法 。
多晶材料中晶粒取向沿一定方位偏聚的現象稱為織構，常見的織構有絲織構和板織構兩種型別。為反映織構的概貌和確定織構指數，有三種方法描述織構：極圖、反極圖和三維取向函式，這三種方法適用於不同的情況。
對於絲織構，要知道其極圖形式，只要求出求其絲軸指數即可，照相法和衍射儀法是可用的方法。板織構的極點分佈比較複雜，需要兩個指數來表示，且多用衍射儀進行測定 。
如何分析x射線粉末衍射圖譜和資料
4樓：我是杜鵑
可以解析譜圖獲得樣品的定性結論：是不是該物質，在新研製藥品或仿製專利藥已過保護期的藥品的權威鑑定中常使用；
經過嚴格的譜線解析與計算，可以定量分析得出被鑑定物的含量比例純度等；
上述2個應用是針對物質-化合物單質純淨物合金共熔物等的。其實也可以針對某一晶相：單一晶相的定性分析；單一晶相的定量分析；
可以解析出被鑑定物的結晶度；......
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一個類似問題 和 回答如下：
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怎樣根據x射線衍射圖測算其相數
我們前幾天做了產品的x射線衍射圖，但沒有α、β相的值。還有能不能告訴我這些英文在x射線衍射圖中怎樣表示。
scan:3.0/85.0/0.02/0.15(sec),cu(40kv,30ma),i(cps)=339,
peak:21-pts/parabolic filter,threshold=3.0,cutoff=0.1%,bg=3/1.0,peak-top=summit
note:intensity=cps,2t(0)=0.0(deg),wavelength to ***pute d-spacing=1.54056å（cu/k-alpha1）
問題補充：根據這些資料是不是能夠進行測算呢，有沒有什麼具體的公式呢？？這些英文表示什麼呢？？急！急！
2-theta d(å) bg height height% area area% fwhm xs(å)
13.583 6.5135 8 110 33.0 26.8 38.2 0.207 639
19.136 4.6342 4 24 7.2 5.4 7.7 0.191 689
20.160 4.4010 5 39 11.7 9.9 14.1 0.216 514
20.741 4.2791 4 142 42.6 34.4 49.0 0.206 560
23.099 3.8472 4 65 19.5 17.7 25.3 0.232 441
23.558 3.7733 5 115 34.5 26.7 38.0 0.197 586
26.641 3.3432 7 79 23.7 21.5 30.7 0.232 431
27.238 3.2714 6 333 100.0 70.1 100.0 0.179 678
31.159 2.8680 5 143 42.9 36.0 51.4 0.214 474
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關於「怎樣根據x射線衍射圖測算其相數」的回答如下：
scan:3.0/85.0/0.02/0.15(sec),cu(40kv,30ma),i(cps)=339,
掃描：從3.0度/到85.
0度/步長0.02度/用時0.15(sec),x射線cu(40kv,30ma),i(cps)=339,最強峰強i1=339(每秒計數counts per sec)
peak:21-pts/parabolic 峰數：21個/拋物線型
filter,threshold=3.0,cutoff=0.1%,bg=3/1.0,peak-top=summit 濾波，閾值=3.0，截止限=0.1%，峰頂=峰頂點
note:intensity=cps,2t(0)=0.0(deg),wavelength to ***pute d-spacing=1.
54056å（cu/k-alpha1） 注：強度=每秒計數，2t(0)=0.0(deg度),用於計算晶格間距d的波長=1.
54056å（cu/k-alpha1銅靶/k-alpha 1線）
布拉格定律公式：
2d sin θ = nλ，式中，λ為x射線的波長，λ=1.54056å，衍射的級數n為任何正整數，這裡一般取一級衍射峰，n=1。
當x射線以掠角θ(入射角的餘角，又稱為布拉格角)入射到你的晶體或部分晶體樣品的某一具有d點陣平面間距的原子面上時,就能滿足布拉格方程，從而測得了這組x射線粉末衍射圖（資料）。
你計算時，注意：
第一列資料，是2θ 角，要除以2才是用到公式中的θ 。
第二列資料，的d,單位是å，
第三列資料，bg，可能是背景縮寫；
第四列資料，峰高，計數值；
第五列資料，相對峰高（%），是把最強峰作為歸一標準的相對強度值；
第六列資料，峰面積；
第七列資料，相對峰面積（%）；
第八列資料，fwhm-full width at half maximum （脈衝）峰半高寬；一般用於計算的峰強度使用高度就可以了，這是把峰都看成是常規峰。但這一項 fwhm 可以給出特異峰資訊，在解析時會帶來特殊意義。
第九列資料，xs(å)，xs是晶粒度(å）。
α、β相的值，要靠解析譜圖、再借助查詢pdf（《粉末衍射卡片集》）卡片上的標準值進行核對、鑑定、計算去獲得。
如何分析X射線粉末衍射圖譜和資料
可以解析譜圖獲得樣品的定性結論 是不是該物質，在新研製藥品或仿製專利藥已過保護期的藥品的權威鑑定中常使用 經過嚴格的譜線解析與計算，可以定量分析得出被鑑定物的含量比例純度等 上述2個應用是針對物質 化合物單質純淨物合金共熔物等的。其實也可以針對某一晶相 單一晶相的定性分析 單一晶相的定量分析 可以解...
什麼是x射線衍射分析，分析儀器有哪些
x射線衍射相分析 phase analysis of xray diffraction 利用x射線在晶體物質中的衍射效應進行物質結構分析的技術。x射線衍射相分析 phase analysis of xray diffraction 利用x射線在晶體物質中的衍射效應進行物質結構分析的技術。每一種結晶物...
怎麼用jade5 0軟體讀取x射線衍射試驗的資料
你把軟體重置一下設定，在help裡面，然後再開啟raw檔案就可以了。如何安裝jade5.0xrd資料處理軟體 1 資料輸入 由於不同的x射線衍射儀輸出的資料型別不同，但都可以將資料轉換成txt文件或ascii格式的文件 檔名為 txt或 asc 為提高軟體的通用性jade5.0提供了以txt文件或a...