1樓:膜厚儀安原測試中心
這是儀器的測試原理決定了儀器的測試精度,一般金屬鍍層分析還是用x螢光鍍層測厚儀比較精確。
螢光膜厚儀是一種用於測量材料表面塗層厚度和元素成分的裝置。它是基於x射線螢光技術(xrf)和能量色散x射線譜(橡橘edxrf)技術開發而來。
x螢光膜厚儀的主要工作原理是通過發射x射線照射到樣品表面,然後檢測從樣品反射回來的x射線。當x射線與樣品中的元素相互作用時,會激發出特徵x射線,這些特徵x射線的能量與樣品中元素的原子序數有關。通過測量這些特徵x射線的能量和強度,可以確定樣品中元素的種類和含量。
x螢光膜厚儀通常採用非接觸式測量方式,可以快速、準確地測量材料表面的塗層厚度和元素成分。這種儀器具有以下幾個優點:
非破壞性:x螢光膜厚儀不會對樣品造成物理損害,可以用於測量珍貴或易碎的樣品。
快速測量:x螢光膜厚儀的測量速度非常快,可緩如鉛以在幾秒鐘到幾分鐘內完成一次測量。
精確度高:x螢光膜厚儀可以提供高精度的測量結果,通常誤差在±1%以內。
可以分析多種元素:x螢光膜厚儀可以分析樣品中多種元素,包括金屬、非金屬、稀土元素等。
無需製備樣品:x螢光膜厚儀可以直接對樣品進行測量,無需進行特殊制擾好備,非常方便。
x螢光膜厚儀廣泛應用於製造業、科研機構、質量檢測部門等領域,用於測量金屬、非金屬、陶瓷、塑料等各種材料表面塗層厚度和元素成分分析。
鎳厚怎麼用膜厚測試測量
2樓:
渦流膜厚測試儀,用於測量鋁型材表面氧化膜或絕緣塗層厚度。這種膜厚儀輕便,操作簡單,效能穩定,適用於鋁型材膜厚現場檢測,精度±3%。紅外膜厚感測器專用於金屬板帶表面漆膜厚度連續檢測。
測量系統根據塗層的紅外能量吸收原理和漆膜下的金屬表面反射回的能量來測出膜厚。可測量鋁容器,密封蓋,飲料罐的塗層厚度,測量誤差小於50mg/平方公尺。工廠預先校準功能可使測量系統方便而迅速地投入使用。
問一下大家,想測鍍鎳層厚度,用什麼樣的鍍層測厚儀比較好?
3樓:諾諾百科
測厚儀好的是德國菲希爾的,手持的只能測鍍鋅層厚度,不能測鉻。
塗鍍層測厚儀 pd-ct2 plus(增強型)pd-ct2 plus是一款增強型覆層測厚儀,能夠直接顯示覆層的厚度和重量,尤其適用於鋼板及鋼帶表面鍍鋅層重量的測量。
該儀器採用磁性、渦流兩用原理進行測量,能夠快速、無損傷、精密地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆蓋層的厚度及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上非導電覆蓋層的厚度和重量(如:橡膠、油漆、塑料、陽極氧化膜等)。
磁感應測量原理。
採用磁感應原理時,利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。覆層越厚,則磁阻越大,磁通越小。
利用磁感應原理的測厚儀,原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。
一般要求基材導磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性,則要求與基材的導磁率之差足夠大(如鋼上鍍鎳)。當軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時,儀器自動輸出測試電流或測試訊號。
4樓:匿名使用者
無損用麥考特的g6
破壞式用電解測厚儀。
或者**昂貴的光譜儀(一般20微公尺以下精度能保證)採用磁阻法測量的塗層測厚儀不能測鐵上鍍鎳。
磁阻法測厚儀普通的只能測鋼鐵上的油漆,高精度的測厚儀才可以測鍍鋅層,鍍鉻層,鎳有磁性,測不了。
測鍍層的,比如電鍍鋅,鍍鉻,需要進口的1萬以上的儀器或者國產的pd-ct2才可以。
求光纖測試儀使用方法,求文件 光纖測試儀使用方法
otdr光纖測試儀使用方法 問題1 按千兆標準對光纖鏈路進行測試,dtx需要使用哪個模組?答 光纖千兆測試標準包含1000base sx和1000base lx兩種,1000base sx用於多模光纖,使用850nm波長vcsel光源,1000base lx用於單模光纖,使用1310nm波長鐳射光源...
接觸角測試儀的接觸角測試儀組成,接觸角測定儀是啥
接觸角測量儀,由兩個部分組成,一是硬體部分,一是軟體部分。硬體如上圖 由幾個方面組成 樣品臺,注射部分,光源,鏡頭,機身。測試軟體是裝在電腦裡面的。晟鼎精密 接觸角測定儀是啥 原理概述 所謂接觸角是指在一固體水平平面上 滴一液滴,固體表面上的固 液 氣三相交界點處,其氣 液介面和固 液介面兩切線把液...
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