1樓：張湘瑾
關於汞探針測量cv樣品受光照會對測試結果有什麼影響相關資料如下。
原子螢光法測定受諸多因素影響，條件控制要求比較嚴格。尤其在應用原子螢光測汞時，實驗的各環節諸如實驗氛圍，儀器粗脊鎮設定，都會影響空白值，最終影響測量結果的準確性和可靠性。
外巖粗部環境及原子螢光光譜儀儀器設定因素對測定的影響及解決辦法如下：
1 溫度溼度影響。
溫度、溼度是影響氫化反應的重要因素。溫度過高、過低，都會使測定穩定性變差，溼度過大，會引起散射干擾造成螢光猝滅導致螢光訊號降低。實踐證明，溼度對汞空白有較顯著影響。
解決辦法：嚴格控制儀器室內溫度在15~30℃，溼度不大於75%。
2 爐高選擇。
原子螢光測定靈敏度隨觀測高度的變化而變化。高度太低時(小於，石英爐的散射光將造成很高的背景讀數，對空白影響較大，過高時也會導致靈敏度及測量精度的下降。根據原子螢光光譜儀實際工作情況，通過條件試驗確定最佳爐高，同等條件下爐高對空白影響見下表。
解決辦法：測汞時，內干擾較大，通常通過降低爐高，使用氬氫火焰外焰測汞，可有效降低汞空白，由表2可知，afs930測汞時10mm爐高為較佳選擇。
3 光漂因素。
光漂即由於光源因素引起的檢測野粗值的漂移。尤其汞燈，隨環境溫度的變化檢測值變化較大。
解決辦法：①充分預熱儀器與汞燈30min~1h，採用大電流預熱(40ma)，低電流檢測(25ma或30ma)，可有效降低漂移現象。②檢查光路是否發生移位，正確調整好光路後，可使汞燈往後移2~5mm，可降低空白值高的現象。
實驗室環境，排氣扇（空調）的高度、功率過大時，螢光訊號影響較明顯，可做適當調整。④實際測量中，樣品較多時，每隔二三十樣品，重測空白和工作曲線的某單點濃度，來重新擬合標準曲線，降低由於光源的漂移而造成的空白值和樣品含量增大。
2樓：帳號已登出
螢光光度計測汞的時候，往往會因為汞的記憶效應太強而使得檢測結果偏差很大。
溫度溼度影響。
溫度、溼度是影響氫化反應的重要因素。溫度過高、過低，都會使測定逗仿穩定性變差，溼度過大，會引起散射干擾造成螢光猝滅導致螢光訊號降低。實踐證明，溼度對汞空白有較顯著影響。襲做。
解決辦法：嚴格控制儀器室內溫度在15~30℃，溼度不大於75%。
2 爐高選擇。
原子螢光測定靈敏度隨觀測高度的變化而變化。高度太低時(小於，石英爐的散射光將造成很高的背景讀數，對山禪纖空白影響較大，過高時也會導致靈敏度及測量精度的下降。
3樓：天空剪輯雲
答激信做案如下：汞探針測量cv樣品受光照會對測試結坦歲果有深淵的影響明衡。
4樓：雨落天鷹
往往會因為汞的記憶效應太強而使得檢測結果偏差很大。
影響粉體比表面積測試結果的因素有哪些?
5樓：金埃譜科技公司
1環境溫度的變化有一定的影響，不過現在一般質量較好的裝置都採用整合管路，所以這點已經很小了。
2被測試樣與管路自由氣體空間的比值。在靜態法測量時這點是比較重要的。如果自由空間過大對他的精度肯定是有影響的。
3樣品的預處理。在測試比表面積時是要對樣品有乙個預處理的過程，可以排除樣品水分對比表面積的影響。不同的樣品處理的時間和溫度都不同的。所以要選擇樣品預處理可設定的裝置。
4關鍵部件。壓力感測器、分子幫浦、取樣模組、氣路介面這是直接影響測試結果的。
5低溫氮吸附測試還有一點是隨液氮的揮發導致的液氮面的下降。這也是影響測試結果，一般好的儀器應該是全自動隨著液氮面的下降液氮杯自動上公升。從而保證液氮面在被測樣品管的位置以減少對結果的誤差。
還有很多小地方都會有影響。如p/p0的選點不同、檢測方法的不同、計算方法的不同這裡就不一一**了。一般只有做好了以上幾點對結果就不會有太大的影響。一般可控制重複性在以下。
6樓：網友
第一，和樣品預處理時間有關。以氫氧化鎳為例，它的處理時間至少需要8h，由於其乾燥過程容易板結，故處理溫度不宜過高（一般90°c），由於處理溫度不夠高，需用加長時間來彌補。
第二，和樣品的處理溫度有關。以氧化鋁為例，它的處理溫度一般是300°c。若降低其處理溫度，容易造成測量結果偏低，且bet測量曲線的線性很差。
第三，和處理時的真空度有關。真空度偏低，使真空室的飽和蒸汽壓偏高，樣品表面處理不乾淨，這樣都造成測量結果偏低（個別樣品除外）。
第四，和稱樣量多少有關。樣品量的多少和其自身的比表面的大小有關的，一般比表面越大，稱樣量越少。但是在樣品管體積一定的情況下，量太多容易造成管路堵塞，太少容易出現脫附峰拖尾。
所以選擇合適的稱樣量是很有必要的。
第五，和測試樣品的自身吸附特性有關。大部分樣品處理後的比表面都大於處理前的比表面，但有的樣品未處理時比表面很大，處理後反而變小。
第六，和儀器的型別有關，一般來說，靜態容量法測得結果比流動色譜法測得的結果更加準確，這是由於前者測量的是吸附資料，後者測量的是脫附資料。若樣品中存在不規則的孔，氮分子進入孔內後，脫附時，由於出口很小，就有可能不出來。造成脫附的資料失真。
此外，由於熱擴散的影響，也增加流動色譜法測量誤差。
7樓：網友
1、測試方法。
目前比表面積測試的方法主要有兩種，一種為動態法（參比法），另一種為靜態，動態法測試的資料精度較差，與真實值偏差較大，目前國內主要用該方法進行質量監控，國外已經淘汰該方法裝置，普遍使用靜態法儀器進行比表面及孔徑的測試。動態法的儀器使用熱導池檢測樣品吸附、脫附後氣體濃度的變化，相對來說受環境和熱導池精度影響較大。
2、樣品的前處理是否充分，前處理主要是對樣品進行真空公升溫脫氣、脫水。吸水性較強的樣品如不能做好充分處理，對測試數值影響較大。
3、對於靜態法裝置，存在裝樣量是否充足、分壓取值範圍設定、遞進壓力和儀器自身真空度死體積校準等多方面因素影響。
可詳細瞭解一下多功能吸附儀的使用和原理。
影響x射線衍射實驗測量結果的主要影響因素有哪些
8樓：
影響粉末x射線衍射圖效果的因素有：
粉末樣品自身顆粒的大小對x射線衍射分析測試結果有比較大的影響；
樣品架裝填粉末樣品量不同對衍射結果有直接的影響；
對於少量樣品或微量試樣採用橫式填樣法更加科學合理。
試說明被測試樣表面粗糙度與厚度才對測量結果有無影響？為什麼
9樓：匿名使用者
沒有影響。表謹配姿面粗糙度。
是祥絕反賣段應材料表面加工狀況的引數，只與試樣表面的粗糙程度有關，與材料的硬度、厚度等性質無關。
儀器測量頻寬是什麼，對測量結果有哪些影響
10樓：匿名使用者
通常談到的頻寬是示波器前端放大器幅頻特性曲線的截止頻餘跡段率點，也就是輸出信州友號降低到輸入訊號幅值的時的頻率點。
示波器頻寬如果受限，對訊號的捕獲包含幾點：1，延長被測訊號上公升時間；2，減少被測訊號頻率分量；3，使被測訊號相位失真。
測試測量儀器也都在追求更高頻寬，頻寬越高技術難度也就越大。目前國內最高做到了1ghz，最先好像是深圳乙個豎譽儀器廠鼎陽做出來的。
11樓：網友
儀器測量的頻寬是指儀器盯餘可測量的訊號頻率寬度，比如說儀器的頻寬是2mhz，這指的是，儀器在訊號頻率在2mhz範圍內是可以測量的。如果儀器的頻寬的最高頻率沒有達到被測喊並訊號的最高頻率，那麼測量是無效的。因此，測量凱滲滾儀器的頻寬必須全覆蓋被測訊號的變化頻率。
未在恆溫條件下測折光率，對測量結果有什麼影響？為什麼？ 樣品為冷卻到室溫測折光率，對實驗結果有什麼影
12樓：網友
溫度對樣品的折光率是有影響的啊，我不知你測得是什麼，我測有機矽和環氧明顯有這個現象，溫度不同折光率不同。
xrd測試時 樣品粒徑對測試結果的峰強度有什麼影響
13樓：堅信
一般來說粒徑對強度的影響區分在數百奈米以上和以下。若是顆粒只有百十奈米甚至是幾十奈米，那麼峰強不會很高且峰形寬化嚴重。粒徑越大相反，峰強尖銳且高，單晶狀態的峰強可以達到數十萬，百萬的強度。
需要測試可以私聊。
在測定褶皺回覆角時,試樣的自垂對測量結果是否有影響
14樓：匿名使用者
一般情況下標準集團/體的試驗過程如下所示： 1.先用壓樣裝置，三塊樣品連續測試，間隔約1min； 2.
將樣棗轎橋品面對面摺疊，布邊處用夾子夾住，不超過布邊5mm； 3.有些情況下樣品表面會沾在一起，應使用一片紙或鋁箔，尺寸為18x14mm，注意不要用手接觸樣品； 4.將摺疊的樣品放置於兩壓塊之間，並立即施加砝碼，開啟記時裝置，等60+2秒後，按照2，3，4準備下一塊 樣品； 分鐘之後，快速輕微地將第一塊砝碼移開，用夾子將摺疊的樣品轉移到測量儀的樣品架上； 6.
將紙片或鋁箔拿開，將樣品的一邊放入樣品夾中，另凳猛一邊自由懸下，過60+2秒後，再將第2，3塊放入樣品 夾； 7.調整儀器使樣品懸下端與儀器的垂直標記一致，5min之內應不斷調整（使樣品懸下端與儀器的垂直帆森標記一 致）以避免重力作用的影響； 之後，記錄樣品的回覆角度。如果下垂端輕微卷曲或扭轉，以通過下垂端中心和刻度盤軸心的垂直平面 ，作為摺痕回覆角讀數的基準； 9.
重複以上步驟，再做三塊反面對摺的樣品及緯向的正面對摺及反面對摺（共12塊）。
高溫四探針測量系統是四探針法測電阻率嗎
高溫四探針測量系統就是採用四探針法測電阻率的。三琦高溫四探針測量系統是為了滿足材料在高溫環境下的阻抗特性測量需求而設計的。它由硬體裝置和測量軟體組成，包括高溫測試平臺 高溫四探針夾具 電阻率測試儀和高溫電阻率測量系統軟體四個組成部分。選最大的，看偏轉，進行估算，如果幾乎不動，就換2號大的估測 什麼是...
汞」是一種什麼樣物質
汞是一種化學元素，俗稱水銀 汞亦可寫作銾 它的化學符號是hg，它的原子序數是80。它是一種很重 銀白色的液態過渡金屬。因著這特性，水銀被用於製作溫度計。純汞是有毒的，但它的化合物和鹽的毒性非常高，口服 吸入或接觸後可以導致腦和肝的損傷。因此，今天的溫度計大多數使用酒精取代汞。一些醫用溫度計仍然使用汞...
攝影測量與遙感就業究竟怎麼樣
武大遙感院出來的本科生就業就比較好，沒有樓上說的那麼悲苦，我們這一屆基本上一半讀研一半工作，就業單位一般是一些大型的遙感或者gis軟體公司或者測繪局 設計院等，三個方向就業的情況都比較好，就業方向也沒有多大的差別，基本上工資都在4000以上。研究生的就業情況會更好一些，月薪一萬的也有很多 目前遙感的...