SPC平均值管制上限公式UCLX平均A2R平均

2021-03-04 04:15:35 字數 4518 閱讀 1757

1樓:匿名使用者

a2r=3西格瑪,西格瑪的公式s=r/d2,其實兩個公式是一樣的, 至於用在**?spc控制圖裡x(平均)圖的控制下線阿

spc管制圖公式中老出現的d3,d4是代表什麼意思,還有a2r等??謝謝!!!!

2樓:匿名使用者

就是一個常量項,用在不同的圖形中,具體數值可以查表

3樓:匿名使用者

a2r=3西格瑪,西格瑪的公式s=r/d2,其實兩個公式是一樣的, 至於用在**?spc控制圖裡x(平均)圖的控制下線阿

管制圖是什麼?

4樓:夏道萌

1、簡易七手法:甘特圖、流程圖、5w2h、愚巧法、雷達法、統計圖、推移圖

2、qc舊七大手法:特性要因分析圖、柏拉圖、查檢表、層別法、散佈圖、直方圖、管制圖

3、qc新七大手法:關連圖、系統圖法、kj法、箭頭圖法、矩陣圖法、papc法、矩陣資料解

析法 計數值:以合格數、缺點數等使用點數計算而得的資料一般通稱為計數資料。(數一數)

計量值:以重要、時間、含量、長度等可以測量而得來的資料,一般為計量值,如長度、重要、濃度,有小數點的凡四捨五入都稱之。(量一量)

qc七大手法由五圖,一表一法組成:

五圖:柏拉圖、散佈圖、直方圖、管制圖、特性要因分析圖(魚骨圖)

一表:查檢表(甘特圖)

一法:層別法

4、管制圖:

(1) 何為管制圖:

為使現場之品質狀況達成吾人所謂之「管理」作業,一般均以偵測產品之

品質特性來替代「管理」作業是否正常,而品質特性是隨著時間、各種狀況有著高低的變化; 那麼到底高到何種程度或低至何種狀況才算吾人所謂異常?故設定一合理之高低界限,作為吾人探測現場製程狀況是否在「管理」狀態,即為管制圖之基本根源。

管制圖是於2023年由美國品管大師修哈特博士所發明。而主要主義即是【一種以實

際產品品質特性與依過去經驗所研判之製程之能力的管制界 限比較,而以時間順序

用圖形表示者】。

(2) 基本特性:

一般管制圖縱軸均設定為產品的品質特性,而以製程變化的資料為分度;橫軸則為檢測製品之群體**或編號或年月日等,以時間別或製造先後別,依順序將點繪於圖上。

在管制圖上有三條筆直的橫線,中間的一條為中心線(center line,cl),一般以藍色之實線繪製。左上方的一條稱為管制上限(upper control limit,ucl),在下方的稱為管制下限(lower control limit,lcl),對上、下管制界限之繪製,則一般均用紅色之虛線表現之,以表示可接受之變異範圍;至於實際產品品質特性之點連線條則大都以黑色實線表現繪製之。

(3) 管制圖原理:

1)品質變異之形成原因

一般在製造的過程中,無論是多麼精密的裝置,環境,其品質特性一定都會有變動,絕無法做完全一樣的製品;而引起變動的原因可分為兩種,一種為偶然(機遇)原因,一種為異常(非機遇)原因。

2)管制圖界限之構成:

管制圖是以常分配中之三個標準差為理論依據,中心線為平均值,上、下管制界限以平均數加減三個標準差(±3σ)之值,以判斷製程中是否有問題發生,此即修哈特博士所創之法。

(4) 管制圖種類:

1)依資料性質分類:

a 計量值管制圖:所謂計量值係指管制圖之資料均屬於由量具實際量測而得;如長度、重量、濃度等特性均為連續性者。常用的有:

a 平均數與全距管制圖(x(—)-r chart)

b 平均數與標準差管制圖(x(—)-σchart)

c 中位數與全距管制圖(x(~)-r chart)

d 個別值與移動全距管制圖(x-rm chart)

e 最大值與最小值管制圖(l-s chart)

b 計數值管制圖:所謂計數值是指管制圖之資料均屬於單位計算數者而得;如不良數、缺點數等間斷性資料均屬之。常用的有:

a 不良率管制圖(p chart)

b 不良數管制圖(pn chart ,又稱np chart或d chart)

c 缺點數管制圖(c chart)

d 單位缺點數管制圖(u chart)

2)計數值與計量值管制圖之應用比較

計量值 計數值

優點 1、甚靈敏,容易調查真因。

2、可及時反應不良,使品質穩定。 1、所須資料可用簡單方法獲得。

2、對整體品質狀況之瞭解較方便。

缺點 1、抽樣頻度較高、費時麻煩。

2、資料須測定,且再計算,須有訓練之人方可勝任。

1、無法尋得不良之真因。

2、及時性不足,易延誤時機。

(5) 管制圖之繪製:

介紹:計量值管制圖(x-r)常用

1)先行收集100個以上資料,依測定之先後順序排列之。

2)以2~5個資料為一組(一般採4~5個),分成約20-25組。

3)將各組資料記入資料表欄位內。

4)計算各組之平均值x。(取至測定值最小單位下一位數)

5)計算各組之全距r。(最大值-最小值=r)

6)計算總平均x。

x=(x1+x2+x3+…+xk)/k=ξxi/k(k為組數)

7)計算全距之平均r:

r=(r1+r2+r3+…+rk)/k=ξri/k

8)計算管制界限

x管制圖:中心線(cl)=x

管制上限(ucl)=x+a2r

管制下限(lcl)=x-a2r

r管制圖:中心線(cl)=r

管制上限(ucl)=d4r

管制下限(lcl)=d3r

a2,d3,d4之值,隨每組之樣本數不同而有差異,但仍遵循三個標準差之原理,計算而得,今已被整理成常用係數表。

9)繪製中心線及管制界限,並將各點點入圖中。

10)將各資料履歷及特殊原因記入,以備查考、分析、判斷。

(6) 管制點之點繪製要領:

1)各項工程名稱、管制特性、測定單位、裝置別、操作(測定)者、樣本大小、材料別、環境變化…等任何變更資料應清楚填入,以便資料之分析整理。

2)計量值變更管制圖(x-r,x-r…等)其x管制圖與r管制圖的管制界限席寬度取法,一般原則以組之樣本數(n)為參考,x管制圖之單位分度約為r管制圖之1/n倍。

(縱軸管制界限寬度約20-30m/m;橫軸各組間隔約2-5mm)

3)中心線(cl)以實線記入,管制界限則記入虛線;各線上須依線別分別記入cl、ucl、lcl、等符號。

4)cl、ucl、lcl之數值位數計算比測定值多兩位數即可。

(各組資料之平均計算數則取比測定值多一位數)

5)點之繪製有[?]、[○]、[△]、[×]…等,最好由廠內統一規定。

6)變管制圖,二個管制圖之繪製間隔最少距20mm以上,可行的話最好距30mm左右。

(7) 管制圖之判讀:

1)管制狀態之判斷(製程於穩定狀態)

a 多數點子集中在中心線附近。

b 少數點子落在管制界限附近。

c 點子之分佈與跳動呈隨機狀態,無規則可循。

d 無點子超出管制界限以外。

2)可否延長管制限界限做為後續製程管制用之研判基準:

a 連續25點以上出現在管制界限線內時(機率為93.46%)。

b 連續35點中,出現在管制界限外點子不超出1點時。

c 連續100點中,出現在管制界限外點子不超出2點時。

製程在滿足上述條件時,雖可認為製程在管制狀態而不予變動管制界限,但並非點子超出管制界限外亦可接受;這此超限之點子必有異常原因,故應追究調查原因並予以消除之。

3)檢定判讀原則:

a 應視每一個點子為一個分配,非單純之點。

b 點子之動向代表製程之變化;雖無異常之原因,各點子在界限內仍會有差異存在。

c 異常之一般檢定原則:(如圖所示)

(8) 管制圖使用之注意事項:

1)管制圖使用前,現場作業應予標準化作業完成。

2)管制圖使用前,應先決定管制專案,包括品質特性之選擇與取樣數量之決定。

3)管制界限千萬不可用規格值代替。

4)管制圖種類之遴選應配合管制專案之決定時搭配之。

5)抽樣方法以能取得合理樣組為原則。

6)點子超出界限或有不正常之狀態,必須利用各種措施研究改善或配合統計方法,把異常原因找出,同時加以消除。

7)x-r管制圖裡組的大小(n),一般採n=4-5最適合。

8)r管制圖沒下限,系因r值是由同組資料之最大值減最小值而得,因之lcl取負值沒有意義。

9)製程管制做得不好,管制圖形同虛設,要使管制圖發揮效用,應使產品製程能力中之cp值(製程精密度)大於1以上

希望採納

5樓:

控制圖是用於分析和控制過程質量的一種方法。控制圖是一種帶有控制界限的反映過程質量的記錄圖形,圖的縱軸代表產品質量特性值(或由質量特性值獲得的某種統計量);橫軸代表按時間順序(自左至右)抽取的各個樣本號;圖內有中心線(記為cl)、上控制界限(記為ucl)和下控制界限(記為lcl)三條線。

6樓:匿名使用者

管制圖指用來判斷流程是否穩定,有無機會或特殊變異原因的統計分析管理工具,主要是藉由實際品質特性與根據過去經驗的管制界限來作比較,按時間先後順序來判別產品品質是否安定的一種圖形,並研究其變異**以監視、控制和改善流程。

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